Seri rezonans dayanım gerilimi test cihazı? Wuhan UHV üretiminde uzmanlaşmıştır.seri rezonans, geniş ürün yelpazesi ve profesyonel elektrik testleri ile. Bulmak içinseri rezonans, Wuhan UHV'yi seçin.
Seri rezonans dayanım gerilimi test cihazı: ilkesini kullanmaseri rezonansDeğişken frekans kontrolörünün çıkış frekansını ayarlayarak, devredeki reaktörün endüktansı L ve test numunesinin kapasitansı C seri rezonansa tabi tutulur ve rezonans voltajı, test numunesine uygulanan voltajdır. Bu cihaz, enerji, metalurji, petrol ve kimya mühendisliği gibi endüstrilerde yaygın olarak kullanılmaktadır ve jeneratörler ve transformatörler gibi yüksek-kapasiteli, yüksek-voltajlı kapasitif numuneler için uygundur. GIS, Devir ve yüksek-çapraz-bağlantılı kablolar, transformatörler, burçlar vb. için önleyici testler.
Seri rezonans dayanım gerilim test cihazının çalışma prensibi
Güç, bir frekans modülasyon kontrolörü aracılığıyla sağlanır ve test voltajı, reaktör L'ye ve test numunesi CX'e yüksek voltaj uygulamak için başlangıçta bir uyarma transformatörü tarafından yükseltilir. Frekans modülasyon kontrolörünün çıkış frekansını değiştirerek devre seri rezonans durumuna geçer; Test örneğindeki yüksek voltaj için gerekli voltaj değerini elde etmek için değişken frekans kontrol cihazının çıkış voltajını ayarlayın. Devrenin rezonans frekansı, test numunesinin kapasitansına (CX) ve reaktörün endüktansına (L) bağlıdır.
Seri rezonans dayanım gerilimi test cihazı için test yöntemi
Öncelikle düşük voltajı sistemin rezonans noktasına indirin, ardından test voltajının genliğini test numunesi üzerinde belirtilen voltaj değerine ulaşacak şekilde artırın. İkincil voltajda belirtilen süreyi koruduktan sonra voltajı sıfıra düşürerek tüm test sürecini tamamlayın.
Seri Rezonans Gerilim Dayanıklılık Test Cihazının Arızası ve Nedenleri
1. Sunucu rezonans noktasını bulamıyor.
Sebep: Sistemin rezonans noktası, ana bilgisayarın çıkış frekans aralığının dışındadır; Sistem kablolama hatası; Sistem güvenilir bir şekilde topraklanmamıştır; Yüksek voltaj örnekleme geri besleme sinyali açık devresi veya güvenilmez bağlantı; Test numunesinde bir arıza var.
2. Ana bilgisayar sıfırlandı.
Sebep: Ana bilgisayarın güç kaynağındaki dalgalanmalar; Harici güçlü manyetik alan girişimi; Ana bilgisayar güvenilir bir şekilde topraklanmamış;
3. Düşük Q değeri, voltajın yükselemeyeceği veya yükselmeyeceği anlamına gelir.
Sebep: (1) Reaktörün kapasitansı test numunesinin kapasitesiyle eşleşmiyor ve rezonans noktası doğru bir şekilde bulunamıyor;
(2) Numune kaybı yüksek ve sistem Q değeri çok düşük;
(3) Uyarma transformatörünün yüksek voltaj çıkış voltajı düşüktür;
(4) Yüksek-voltaj bağlantı kablosu çok uzun veya yüksek-voltaj deşarj hattı kullanmıyor